准确测量内部和外部结构
蔡司METROTOM产品系列可对内部和外部结构进行高精度测量，用于对部件和组件进行无损检测。所有系统都能根据可溯源的三维体积数据进行准确的缺陷和尺寸分析，因此适用于全面保证各种部件的质量，也可用于批量生产的过程控制。
蔡司 METROTOM 1
当内部情况非常重要时，蔡司METROTOM 1便是您的选择：无需制备任何部件即可获取准确的三维数据。借助计算机断层扫描技术，您可以对部件进行非破坏性扫描并观察内部情况。测量、分析和检测隐藏的缺陷和内部结构。与ZEISS INSPECT软件结合使用，可以达到简化质量控制的新境界。
蔡司 METROTOM 6 scout
蔡司METROTOM 6 scout以先进的细节水平对包括内部几何结构在内的复杂部件进行数字化处理。可生成一个高分辨率的三维体积，用于形位公差分析、标称-实际比较或缺陷检测。该系统是以高分辨率对中小型塑料部件进行数字化处理和检测的理想选择。
蔡司 METROTOM 1500
使用蔡司METROTOM 1500，您可以获得先进的CT技术，通过发现表面下的缺陷和准确检查尺寸，可靠地检测缺陷。这款CT的特别之处在于其应用范围极广，从小型部件到超大型部件，以及介于两者之间的各类部件都在内。
用于计量和检测的工业计算机断层扫描技术
蔡司3D X射线技术提高了检测塑料或金属部件内部隐藏结构的精度和效率。快速、无损地生成高分辨率体积数据，从而确保了可靠的质量保证。
高效、无损
工业计算机断层扫描系统旨在分析各类部件的几何形状、缺陷和隐藏结构。它们取代了耗时耗力的传统方法，可以高效地测量和检测整个部件。
高精度测量
蔡司三维X射线系统可通过一次高分辨率扫描捕捉整个部件。由于使用了精密部件和先进的标定方法，扫描结果可用于符合最高精度标准的计量评估。
简化工作流
蔡司三维X射线技术提高了部件检测过程的精度和效率。快速、无损地生成高分辨率体积数据，从而确保了可靠的质量保证，即使是要求极高的部件也不例外。
ZEISS INSPECT X-Ray
全面的三维CT数据分析
易于使用的分析软件蔡司INSPECT X-Ray可以自动或定制进行完整的三维CT数据分析，初学者也可轻松上手。可对几何形状、收缩孔或内部结构和组件进行准确分析。即使是极其微小的缺陷，也能通过单个截面图像清晰显示。您还可以将多个部件的体积数据加载到一个项目中，进行趋势分析，并将结果与CAD数据进行比较，而这一切只需一个软件即可完成。
ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)
计算机断层扫描中的人工智能
ZEISS INSPECT X-Ray中的ZADD插件通过在CT体积数据上应用基于人工智能的方法，即使是微小和模糊的缺陷也能可靠地检测出来。
ZADD能够快速自动检测、定位和分类这些缺陷或异常。该软件插件专为铸件、注塑件、电池和印刷组件等应用而开发。
