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蔡司METROTOM 1

一次扫描,深入洞察

ZEISS METROTOM 1 是您前进的快速途径:无需任何部件准备即可捕获精确的 3D 数据。采用计算机断层扫描技术,您可以无损扫描部件并查看内部。测量、分析和检查隐藏的缺陷和内部结构。与蔡司 INSPECT 软件相结合,它达到了一个新的维度,可以简化您的质量控制。

当内部很重要时

ZEISS METROTOM 1 代表着易用性、精确的 3D 数据和由外而内的质量控制。

紧凑且易于操作的系统

系统操作简单,使各种用户能够启动测量过程并捕获精确数据。 METROTOM 1 的特点是尺寸紧凑,可轻松融入您的空间。 只需按一下按钮,一步即可开始您的内部测量和检查。 为了保持低维护成本,智能而紧凑的解决方案配备了一个封闭的 X 射线管。

无需部件准备即可捕获 3D 数据

使用 METROTOM 1,您可以使用无损扫描检查内部结构和缺陷。 在开始测量过程之前,无需准备部件。 在扫描下一个零件时,您可以检查或逆向工程前一个零件。

多部件扫描

METROTOM 1最具效率的功能之一是可同步测量多个工件。 其原理简单高效:在测量空间内实现批量工件的优化布局。 最终成效:在保证质量的前提下,显著缩短单件扫描时间。 ZEISS INSPECT软件会自动分离并评估各个工件,测量结果可即时生成检测报告。

检查内部结构和缺陷

搭载ZEISS INSPECT系统的METROTOM 1将为您提供全流程测量指引。 通过三维可视化扫描数据检测,可全面获取工件所有尺寸参数——包括隐藏特征。 仅需一次扫描即可完整捕获内外部结构,轻松实现逆向工程。 其核心优势体现为:

  • 中小型部件的 3D 扫描
  • 精确测量
  • 质量检验和保证
  • 对废品进行深入分析
  • 根据 CAD 检查组件
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智能一体化概念

电压、功率、曝光时间和步数是计算机断层扫描 (CT) 的一些重要测量参数。 ZEISS METROTOM 1 与 ZEISS INSPECT 一起作,可自动确定这些值的参数。 该软件为您提供最佳起始值,以降低设置扫描的复杂性。 METROTOM 1 依赖于简单的作、快速采集和直观的评估功能。 您可以信赖的一体化概念。

特征

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蔡司3D X射线技术提高了检测塑料或金属部件内部隐藏结构的精度和效率。 快速、无损地生成高分辨率体积数据,从而确保了可靠的质量保证。

主动温度平衡,获得精确结果

METROTOM 1专为多种复杂工况设计。 除采用坚固耐用的结构外,该系统还具备抵抗内部温度波动的防护能力。 其主动式冷却系统确保持续稳定运行:通过精确维持系统内外温度一致,有效避免零部件热膨胀问题的产生。 这款搭载前沿技术的测量系统采用重型稳定架构,堪称工业应用的可靠解决方案。

优化至最佳结果

METROTOM 1 与 ZEISS INSPECT 一起运行,蔡司 INSPECT 是一体化、以用户为中心的软件解决方案,是 3D 计量领域的既定标准。其强大的体积可视化检测、尺寸计量、趋势分析与比对、缺陷识别等核心功能,能充分发挥设备性能,堪称系统效能的最佳拍档。

高精度测量结果

每台METROTOM 1均需经过双重精度验证——不仅在出厂时进行检测,还会在实地安装后追加测试。精度验证采用经过校准且获得德国DAkkS认证的标准验收件完成。用户可随时使用随机配备的校准件,在设备现场进行重新校准操作。

灵活的应用要求

在165×140毫米的测量空间内轻松完成所有检测任务。 该测量空间支持数字化微调功能,同时可根据实际需求灵活调整分辨率——既可通过降低分辨率实现快速扫描,又能根据检测要求提高测量精度,真正实现效率与精度的智能平衡。

配件

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METROTOM 1 内部

紧凑的系统包含:

  • 校准对象
  • 连续扫描模式
  • 作站
  • 蔡司 INSPECT
  • 蔡司开发的 2.5k 探测器
  • 160 kV X 射线源
  • 温控柜
  • 主动温度控制
  • 360 度自动旋转台 – 5kg 零件容量

应用领域

无论是中型还是小型塑料部件 – METROTOM 1 都能为您提供无限的可能性:连接器、塑料盖、航空航天工业的蜡芯,无论您想要什么。 对于需要检测中小批量的公司来说,它是理想的解决方案。 功能强大且用途广泛。

应用范围广

  • 设计件-实际 CAD 与零件的比较
  • 尺寸测量
  • 零件任意深度截面检测
  • 分析壁厚分布
  • 首件功能尺寸检测
  • 通过扫描不同参数生产的多个样件,确保首件正确性
  • 减少工艺流程中的迭代次数
  • 通过快速检测多个部件实现生产流程监控
  • 刀具验收后的实际扫描记录
  • 部件变形补偿
  • 严苛产品的精准检测——包括透明物体与软性聚合物
  • 总成功能与缺陷分析
  • 材料缺陷无损分析,例如气孔、孔隙及裂纹等
  • 现有零件/几何结构的逆向工程
  • 工程设计方案验证
METROTOM 1 技术数据
X 射线源160 Kv
X 射线探测器(像素)2.5 K (2,500 x 2,500)
测量体积165 x 140 毫米
计量规范 (MPE SD)5 微米 +升/100
尺寸1750 毫米(宽)x1820毫米(高)x 870 毫米(深)
重量2100 kg
软件蔡司 INSPECT
体素分辨率可达32.6μm
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