用于CT检测和计量的高分辨率扫描设备
ZEISS METROTOM 6 scout以先进的细节水平对包括内部几何结构在内的复杂部件进行数字化处理。其结果是一个完整的三维图像,用于形位公差分析或目标/实际对比。CT计量系统是小型塑料部件数字化的理想选择。
ZEISS METROTOM 6 scout是对部件进行无损检测和三维测量的理想解决方案。先进的测量性能和无缝工作流确保了缺陷检测的高可靠性和准确性。
分辨率
在对部件进行数字化处理时,ZEISS METROTOM 6 scout可实现出色的细节锐度:首先,其使用高分辨率的3k X射线探测器获取测量数据;其次,每个部件均在理想测量位置进行测量,因此分辨率很高。结果如图所示:左侧是使用ZEISS METROTOM 6 scout生成的测量数据,右侧是常规标准数据。
精度
ZEISS METROTOM 6 scout使用数学智能生成准确的三维测量数据。在整个测量过程中,将出色的互联算法与测量室的数字模型相结合。它还为所有与测量相关的部件提供了优化的机械稳定性。要旨:根据测量结果,您可以真正可靠、高度准确地评估部件质量,并进行后续分析。
内置定心台的五轴运动学系统可将部件在测量体积内准确定位。只需将其放入机器的测量室,其余的工作将由软件接管。
易于使用的分析软件蔡司INSPECT X-Ray可以自动或定制进行完整的三维CT数据分析,初学者也可轻松上手。
一个软件ZEISS INSPECT X-Ray将系统控制和数据计量评估结合在一起。因此,无需额外的软件或中间步骤。
这确保了无缝流程,并大大简化了从原始数据采集到检测和测量报告的工作流。
蔡司INSPECTX-Ray中的ZADD插件甚至可以可靠、快速、自动地检测到微小和模糊的缺陷。 ZADD可以检测、定位和分类这些缺陷或异常,同时通过读取CT扫描结果对其进行详细分析。 该软件插件专为铸件、注塑件和印刷组件等应用而开发。
蔡司METROTOM 6 scout 技术数据 | |
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X射线源 | 225 kV |
X射线探测器 | 分辨率:3008 × 2512像素 |
测量区域 | d:240 mm h:400 mm |
尺寸 | H. 2210 mm W. 2200 mm D. 1230 mm |
重量 | 4800 kg |
应用领域 | 首件检测、工具校正、生产过程中的检测 |
检测功能 | 内部结构、壁厚、材料缺陷、孔隙和缩孔 |
测量任务 | 形位公差分析、标称-实际比较、装配分析 |